1.對成組設計的多個樣本劫運斗勁,應采用完全隨機設計的方差剖析,即單身分方差剖析。
2.對隨機區(qū)組設計的多個樣本劫運斗勁,應采用配伍組設計的方差剖析,即兩身分方差剖析。
兩類方差剖析的根基軌范不異,只是變異的分化體例分歧,對成組設計的資料,總變異分化為組內(nèi)變異和組間變異(隨機誤差),即:SS總=SS組間+SS組內(nèi),而對配伍組設計的資料,總變異除了分化為措置組變異和隨機誤差外還搜羅配伍組變異,即:SS總=SS措置+SS配伍+SS誤差。整個方差剖析的根基軌范如下:
。1)成立磨練假設;
H0:多個樣本總體劫運相等。
H1:多個樣本總體劫運不相等或不全等。
磨練水準為0.05.
。2)計較磨練統(tǒng)計量F值;
。3)確定P值并作出揣度結不美觀。
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